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GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光電二極管 400-1100nm
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S+C+L波段 160nm可調(diào)諧帶通濾波器
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產(chǎn)品中心光學(xué)測量儀器
product
產(chǎn)品分類
h.n·u· TDI（相機/鏡頭/機器視覺） 時間延遲積分（TDI）原理：這是一種基于累積曝光概念的讀出模式，攝像機同步將電荷從一行轉(zhuǎn)移到下一行，速度與物體在檢測器下方的運動速度相同，從而實現(xiàn)對同一物體的多次曝光積累。為高靈敏度時間延遲積分模式（TDI），低光成像的新標準，NÜVÜ™ TDI攝像機優(yōu)化用于要求苛刻的掃描應(yīng)用。
更新時間：2025-03-10
產(chǎn)品型號：
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橫河AQ6150B 近紅外高精度激光波長計 900-1700nm 精度 ±0.7ppm 橫河憑借著在光測試測量領(lǐng)域擁有的廣泛客戶經(jīng)驗，設(shè)計出了shi界上可靠性高且廣泛通用的光波長計。 AQ6150B系 列具有特定的技術(shù)特點，完quan有能力測量光子技術(shù)應(yīng)用中使用的各種設(shè)備和系統(tǒng)，可以說是高成效的光波長測量儀器。
更新時間：2025-03-18產(chǎn)品型號：瀏覽量：1375
OBR 5T-50 背光反射計 1546.69nm (8.5m或16m測量長度 適用生產(chǎn)線) 光學(xué)后向散射反射儀TM OBR 5T-50是一款快速、簡單易用、低成本的精密反射儀，可測量無源光學(xué)組件和模塊（包括PLC、光纜、連接器、開關(guān)、耦合器等）的插入損耗（IL）和回波損耗（RL）分布。該儀器利用掃頻干涉測量法測量作為距離函數(shù)的后向散射光，靈敏度為-125 dB，采樣分辨率為20微米。OBR 5T
更新時間：2025-02-24產(chǎn)品型號：瀏覽量：1239
OBR 4613 背光反射計 O波段 (30-70m測量長度 10um空間分辨率 適用實驗室) 光學(xué)后向散射反射儀(Optical Backscatter Reflectometer) Luna OBR 4600是Luna屢獲殊榮的光學(xué)后向反射儀TM產(chǎn)品線的一部分。OBR 4600專為組件和短期網(wǎng)絡(luò)測試和故障排除而設(shè)計，可實現(xiàn)具有反向散射水平靈敏度的超高分辨率反射計。
更新時間：2025-02-24產(chǎn)品型號：瀏覽量：1325